在實際工作中，探地雷達作(zuo)為新型的(de)(de)(de)(de)無損檢(jian)測(ce)(ce)設備，具有攜帶(dai)方便、非破壞(huai)性、檢(jian)測(ce)(ce)快速、精度(du)高端的(de)(de)(de)(de)特(te)點，受(shou)到廣闊(kuo)技術人員(yuan)越來越多的(de)(de)(de)(de)重視，并且已經在路面(mian)厚度(du)檢(jian)測(ce)(ce)和(he)(he)地道(dao)襯(chen)砌(qi)厚度(du)檢(jian)測(ce)(ce)中(zhong)得(de)到推廣和(he)(he)使(shi)用(yong)。本文具體介紹了(le)探(tan)地雷達(da)(da)檢(jian)測(ce)(ce)路面(mian)結(jie)構層厚度(du)和(he)(he)檢(jian)測(ce)(ce)地道(dao)二(er)襯(chen)厚度(du)的(de)(de)(de)(de)工作(zuo)原理，并說明了(le)在檢(jian)測(ce)(ce)過程中(zhong)應該注意的(de)(de)(de)(de)事項(xiang)，zui后進(jin)一步指出了(le)使(shi)用(yong)探(tan)地雷達(da)(da)檢(jian)測(ce)(ce)技術的(de)(de)(de)(de)優缺點。

　　在(zai)(zai)工程檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)中，新型(xing)無損檢(jian)(jian)(jian)(jian)設備(bei)探地雷達深受歡迎(ying)，不只(zhi)攜(xie)帶非常方便，而且具(ju)有非破壞性(xing)、檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)功率、精確度(du)高的長處，而且受到許(xu)多工程技術人員的重(zhong)視。目前，在(zai)(zai)物(wu)探中的路面厚度(du)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)及(ji)地道厚度(du)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)中得到了(le)(le)活躍的推廣及(ji)使用。盡管如此，針(zhen)對(dui)這兩種檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)，為了(le)(le)避免少(shao)走彎(wan)路，在(zai)(zai)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)厚度(du)時，應該(gai)密切注(zhu)意這些(xie)問題。

　　探(tan)地雷達(da)在檢測厚(hou)度時，面對的(de)(de)環境非常(chang)復雜，還(huan)有可(ke)能許多(duo)不可(ke)預估的(de)(de)因(yin)素，為了更加明確精確的(de)(de)操作，正確有用(yong)(yong)的(de)(de)使用(yong)(yong)及剖析(xi)，盡可(ke)能減少數據(ju)誤差，我們對以下指標應該重(zhong)點注(zhu)意，包含回波、路(lu)面介電參數、地上(shang)零點等。因(yin)此在進(jin)(jin)行勘探(tan)雷達(da)檢測的(de)(de)過程當(dang)中，對這些參數應該緊密重(zhong)視(shi)，一(yi)方面進(jin)(jin)步檢測功率(lv)，另(ling)一(yi)方面進(jin)(jin)步檢測精確度。

　　確(que)認(ren)底(di)界面的(de)(de)回波(bo)。但確(que)認(ren)之前，先(xian)要攻關一(yi)個核心(xin)問題，提取界面同波(bo)信(xin)號(hao)源(yuan)。因為現有技術條(tiao)件有限，無(wu)法(fa)(fa)精確(que)的(de)(de)區別(bie)路(lu)基界面與路(lu)面的(de)(de)反(fan)射波(bo)。而大(da)部分(fen)的(de)(de)波(bo)和攪(jiao)擾(rao)波(bo)都不是(shi)(shi)固(gu)定(ding)的(de)(de)，相當一(yi)直在變(bian)化，雖然我們可以(yi)用一(yi)定(ding)的(de)(de)剖析，來按捺(na)或(huo)找(zhao)到攪(jiao)擾(rao)波(bo)，但條(tiao)件是(shi)(shi)需(xu)求找(zhao)到精確(que)的(de)(de)底(di)界面回波(bo)信(xin)號(hao)。具體是(shi)(shi)可以(yi)利用界面反(fan)射信(xin)號(hao)回波(bo)信(xin)與界面反(fan)射信(xin)號(hao)來進行(xing)剖析。那么我們需(xu)求以(yi)路(lu)面結構中的(de)(de)zui厚的(de)(de)地方為參考點(dian)，肉眼無(wu)法(fa)(fa)辨認(ren)，可以(yi)從勘探圖(tu)像上尋(xun)覓(mi)zui厚點(dian)，并進行(xing)對比剖析。或(huo)者借助(zhu)剖析勘探波(bo)形來確(que)認(ren)，再(zai)者直接將已有鉆(zhan)探的(de)(de)zui大(da)厚度來作為勘探點(dian)。